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隨著汽車(chē)中電子元器件使用比率的不斷提高，又由于汽車(chē)對(duì)于安全性、可靠性的高要求，相對(duì)于各電子元器件的標(biāo)準(zhǔn)也相對(duì)較高。以下整理了一些汽車(chē)及電子元器件標(biāo)準(zhǔn)，包括芯片應(yīng)力測(cè)試、離散組件應(yīng)力測(cè)試、被動(dòng)組件硬件測(cè)試等的認(rèn)證規(guī)范。

AEC（automotive electronics council）

首先來(lái)了解以下AEC，它是由克萊斯勒、福特和通用汽車(chē)為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立的汽車(chē)電子委員會(huì)。AEC建立了質(zhì)量控制的標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí)，由于符合AEC規(guī)范的零部件均可被上述3家車(chē)廠使用，促進(jìn)了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿，并推動(dòng)了汽車(chē)零件通用性的實(shí)施，為汽車(chē)零部件市場(chǎng)的快速成長(zhǎng)打下了基礎(chǔ)。

AEC-Q100芯片應(yīng)力測(cè)試的認(rèn)證規(guī)范

AEC-Q100是基于集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理的標(biāo)準(zhǔn)。它包含以下12個(gè)測(cè)試方法：AEC-Q100-001 邦線切應(yīng)力測(cè)試；AEC-Q100-002 人體模式靜電放電測(cè)試；AEC-Q100-003 機(jī)械模式靜電放電測(cè)試；AEC-Q100-004 集成電路閂鎖效應(yīng)測(cè)試；AEC-Q100-005 可寫(xiě)可擦除的永久性記憶的耐久性、數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測(cè)試；AEC-Q100-006 熱電效應(yīng)引起的寄生閘極漏電流測(cè)試；AEC-Q100-007 故障仿真和測(cè)試等級(jí)；AEC-Q100-008 早期壽命失效率（ELFR）；AEC-Q100-009 電分配的評(píng)估；AEC-Q100-010 錫球剪切測(cè)試；AEC-Q100-011 帶電器件模式的靜電放電測(cè)試；AEC-Q100-012 12V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述。

AEC-Q101半導(dǎo)體分立器件應(yīng)力測(cè)試的認(rèn)證規(guī)范

AEC-Q101是汽車(chē)級(jí)半導(dǎo)體分立器件應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證，它包含以下6個(gè)測(cè)試方法：AEC-Q101-001 人體模式靜電放電測(cè)試；AEC-Q101-002 機(jī)械模式靜電放電測(cè)試；AEC-Q101-003 邦線切應(yīng)力測(cè)試；AEC-Q101-004 雜項(xiàng)測(cè)試方法；AEC-Q101-005 帶電器件模式的靜電放電測(cè)試；AEC-Q101-006 12V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述。

AEC-Q200被動(dòng)組件應(yīng)力測(cè)試的認(rèn)證規(guī)范

AEC-Q200是無(wú)源元件應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證，它包括以下7個(gè)測(cè)試方式：AEC-Q200-001 阻燃測(cè)試；AEC-Q200-002 人體模式靜電放電測(cè)試；AEC-Q200-003 橫梁負(fù)載、斷裂強(qiáng)度；AEC-Q200-004 自恢復(fù)保險(xiǎn)絲測(cè)量程序；AEC-Q200-005 板彎曲度測(cè)試；AEC-Q200-006 表面貼裝后的剪切強(qiáng)度測(cè)試；AEC-Q200-007 電涌測(cè)試。

AEC-Q001、AEC-Q002、AEC-Q003和AEC-Q004是另外4個(gè)電子元器件汽車(chē)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。其中，AEC-Q001規(guī)范中提出了所謂的參數(shù)零件平均測(cè)試方法（PPTA），PPTA是用來(lái)檢測(cè)外緣半導(dǎo)體組件異常特性的統(tǒng)計(jì)方法，用以將異常組件從所有產(chǎn)品中剔除。PPTA可分為靜態(tài)PAT、動(dòng)態(tài)PAT和地域性PAT，所謂地域性PAT，即是為所有在晶圓上的裸晶加入鄰近性權(quán)重，因此一些被不良裸晶包圍或鄰近的良好裸晶，也可能會(huì)被移除。AEC-Q002基于統(tǒng)計(jì)原理，屬于統(tǒng)計(jì)式良品率分析的指導(dǎo)原則。AEC-Q001的統(tǒng)計(jì)性良品率分析分為統(tǒng)計(jì)性良品率限制和統(tǒng)計(jì)箱限制兩種。AEC-Q003是針對(duì)芯片產(chǎn)品的電性表現(xiàn)所提出的特性化指導(dǎo)原則，其用來(lái)生成產(chǎn)品、制程或封裝的規(guī)格與數(shù)據(jù)表，目的在于收集組件、制程的數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析，以了解此組件與制程的屬性、表現(xiàn)和限制，檢查這些組件和設(shè)備的溫度、電壓、頻率等參數(shù)特性表現(xiàn)。AEC-Q004則提出了一系列的流程步驟，包括組件設(shè)計(jì)、制造、測(cè)試和使用，以及在該流程的各個(gè)階段中采用何種程零缺陷的工具和方法。這些方法涵蓋上述AEC的各種文件標(biāo)準(zhǔn)，以及JEDEC或AIAG等來(lái)自業(yè)界的質(zhì)量控制技術(shù)或管理系統(tǒng)的廣泛應(yīng)用。當(dāng)零件或制程已實(shí)現(xiàn)最佳化，且 成熟性在經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后被證實(shí)，此時(shí)只需要較少的工具就能改善或維持質(zhì)量和可靠性。AEC-Q004實(shí)質(zhì)上市一套零缺陷指導(dǎo)原則，其定義出芯片供貨商或用戶如何在產(chǎn)品生命周期中使用一些工具盒制程來(lái)達(dá)到零缺陷的目標(biāo)。AEC-Q004不是強(qiáng)制性規(guī)范，是提出用來(lái)降低缺陷的工具和方法。