低溫測試標準:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 GB/T 2423.1-2008,IEC 60068-2-1:2007。只做:溫度≥-70℃。
高溫測試標準:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 GB/T 2423.2-2008 ,IEC 60068-2-2:2007。只做:溫度≤300℃。
濕熱試驗標準:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T 2423.50-2012,IEC 60068-2-67:1995。只做:溫度(10~95)℃,濕度:(20~98)%RH
4、交變濕熱試驗:
5、振動試驗:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fh:寬帶隨機振動(數(shù)字控制)和導則 GB/T 2423.56-2006,IEC 60068-2-64:1993。只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。
6、溫度變化試驗:
7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗:
8、跌落試驗:
9、機械沖擊試驗:
10、碰撞試驗:
11、傾跌與翻倒:
12、砂塵試驗:
13、鹽霧試驗:
人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗 GB/T 10125-2012,ISO 9227:2006;
14、溫度沖擊試驗:
15、IP防護等級(外殼防護試驗):
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗R:水試驗方法和導則:GB/T 2423.38-2008,IEC 60068-2-18:2000。
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005,IEC 60068-2-50:1983。
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005,IEC 60068-2-51:1983。
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合 GB/T 2423.59-2008。
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合 GB/T 2423.102-2008。
設備可靠性試驗 恒定失效率假設下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案:GB/T 5080.7-1986,IEC 60605-7:1978;
設備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案:GB/T 5080.5-1985,IEC 60605-5:1982;
可靠性試驗 第2部分:試驗周期設計 GB/T 5080.2-2012,IEC 60605-2:1994;
可靠性試驗 第1部分:試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理 GB/T 5080.1-2012,IEC 60300-3-5:2001。
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